Port de scan adressable SCANSTA111MT/NOPB, 7 bits 1 TSSOP 48 broches 3 → 3,6 V
Documents techniques
Spécifications
Brand
Texas InstrumentsNombre d'entrées d'élément
7
Nombre d'éléments par circuit
1
Type de montage
CMS
Type d'emballage
TSSOP-56
Nombre de broche
48
Dimensions
12.6 x 6.2 x 1.05mm
Longueur
12.6mm
Largeur
6.2mm
Taille
1.05mm
Tension d'alimentation fonctionnement maximum
3.6 V
Température d'utilisation maximum
85 °C
Tension d'alimentation de fonctionnement minimum
3.0 V
Température de fonctionnement minimum
-40 °C
Plage de fréquence de fonctionnement
-40→ +85 °C.
Plage de tension d'alimentation de fonctionnement
3 → 3.6 V
Détails du produit
Port JTAG adressable, Texas Instruments
Le modèle SCANSTA111 de Texas Instruments étend le bus de test IEEE 1149.1 standard dans un environnement de test bus multipoint avec les avantages d'un débit de test amélioré, et la possibilité de retirer une carte du système tout en retenant l'accès au test pour les autres modules du système. Chaque appareil prend en charge jusqu'à trois anneaux de balayage IEEE 1149.1 qui peuvent être combinés en série ou qui sont accessibles individuellement. Un compteur TCK 32 bits permet d'effectuer des opérations d'auto-test intégrées sur un port tandis que d'autres chaînes de balayage sont testées simultanément.
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Prix sur demande
Each (In a Tube of 38) (hors TVA)
38
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1
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Dimensions
12.6 x 6.2 x 1.05mm
Longueur
12.6mm
Largeur
6.2mm
Taille
1.05mm
Tension d'alimentation fonctionnement maximum
3.6 V
Température d'utilisation maximum
85 °C
Tension d'alimentation de fonctionnement minimum
3.0 V
Température de fonctionnement minimum
-40 °C
Plage de fréquence de fonctionnement
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3 → 3.6 V
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Port JTAG adressable, Texas Instruments
Le modèle SCANSTA111 de Texas Instruments étend le bus de test IEEE 1149.1 standard dans un environnement de test bus multipoint avec les avantages d'un débit de test amélioré, et la possibilité de retirer une carte du système tout en retenant l'accès au test pour les autres modules du système. Chaque appareil prend en charge jusqu'à trois anneaux de balayage IEEE 1149.1 qui peuvent être combinés en série ou qui sont accessibles individuellement. Un compteur TCK 32 bits permet d'effectuer des opérations d'auto-test intégrées sur un port tandis que d'autres chaînes de balayage sont testées simultanément.
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