Documents techniques
Spécifications
Brand
KeithleySéries
2600
Fonction Sourcemètre
Current Resistance Voltage Measure, Current Voltage Source
Nombre de voies
2
Plage de source de tension
±100 mV → ±40 V
Plage de source de courant
±100 nA → ±10 A
Puissance de sortie
40 W
Plage de mesure de résistance
500 nΩ → 40 TΩ
Pays d'origine
China
Détails du produit
Compteur source Keithley série 2600B
Les instruments de mesure et de source de courant/tension de l'appareil de mesure de la série 2600B sont fabriqués à partir de la technologie SMU de 3e génération de Keithley. Chaque instrument étroitement intégré offre les capacités d'une alimentation de précision, d'une source de courant véritable, d'un multimètre numérique à 6 digits, d'un générateur de forme d'onde arbitraire, d'un générateur d'impulsions et d'une charge électronique. Les modèles de compteur de source série 2600B sont dotés d'un logiciel de test Java intégré qui permet une caractérisation d'E/S Plug & Play réelle via n'importe quel navigateur, sur n'importe quel ordinateur, de n'importe où dans le monde. La série 2600B est une famille d'instruments puissants dotés de capacités uniques pour les tests de composants et de circuits sur de nombreuses applications, y compris R&D, test de production, éducation et QA/FA.
Caractéristiques et avantages :
• Source de courant/tension 4 cadrans et mesure avec résolution de 6 digits (affichage VFD sur 2 lignes)
• Choix de modèles de la série de plage dynamique exceptionnelle, impulsion 10 A à 0,1 fA et 200 V à 100 nV
• Logiciel de test Java intégré
• La technologie de processeur de script de test (TSP) intègre des programmes de test complets pour un meilleur débit au niveau système.
• Technologie d'extension de lien TSP pour test parallèle multicanal sans ordinateur central
• Interfaces USB 2.0, LXI-C, GPIB, RS-232 et E/S numériques
• Pilotes et outils de développement/débogage fournis
• Le choix de modèle inclut des instruments basse spécification (2604B, 2614B, 2634B)
Applications typiques :
• Structures à semiconducteurs
• Wafer/couches fines
• Nanomatériaux et nanopériphériques
- Graphène/nanotubes de carbone/nanofils/nanostructures faible consommation
• Composants discrets et passifs
- Résistances/diodes/diodes Zener/LED, têtes d'entraînement de disque, capteurs
- Transistors à jonction bipolaire (BJT) à petits signaux, transistors efficaces sur le terrain
(FET)
• Matériaux et dispositifs organiques
- E-liens/électronique imprimable
• Caractérisation des matériaux
- Résistivité/effet Hall
Keithley Power Supplies
Prix sur demande
1
Prix sur demande
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Documents techniques
Spécifications
Brand
KeithleySéries
2600
Fonction Sourcemètre
Current Resistance Voltage Measure, Current Voltage Source
Nombre de voies
2
Plage de source de tension
±100 mV → ±40 V
Plage de source de courant
±100 nA → ±10 A
Puissance de sortie
40 W
Plage de mesure de résistance
500 nΩ → 40 TΩ
Pays d'origine
China
Détails du produit
Compteur source Keithley série 2600B
Les instruments de mesure et de source de courant/tension de l'appareil de mesure de la série 2600B sont fabriqués à partir de la technologie SMU de 3e génération de Keithley. Chaque instrument étroitement intégré offre les capacités d'une alimentation de précision, d'une source de courant véritable, d'un multimètre numérique à 6 digits, d'un générateur de forme d'onde arbitraire, d'un générateur d'impulsions et d'une charge électronique. Les modèles de compteur de source série 2600B sont dotés d'un logiciel de test Java intégré qui permet une caractérisation d'E/S Plug & Play réelle via n'importe quel navigateur, sur n'importe quel ordinateur, de n'importe où dans le monde. La série 2600B est une famille d'instruments puissants dotés de capacités uniques pour les tests de composants et de circuits sur de nombreuses applications, y compris R&D, test de production, éducation et QA/FA.
Caractéristiques et avantages :
• Source de courant/tension 4 cadrans et mesure avec résolution de 6 digits (affichage VFD sur 2 lignes)
• Choix de modèles de la série de plage dynamique exceptionnelle, impulsion 10 A à 0,1 fA et 200 V à 100 nV
• Logiciel de test Java intégré
• La technologie de processeur de script de test (TSP) intègre des programmes de test complets pour un meilleur débit au niveau système.
• Technologie d'extension de lien TSP pour test parallèle multicanal sans ordinateur central
• Interfaces USB 2.0, LXI-C, GPIB, RS-232 et E/S numériques
• Pilotes et outils de développement/débogage fournis
• Le choix de modèle inclut des instruments basse spécification (2604B, 2614B, 2634B)
Applications typiques :
• Structures à semiconducteurs
• Wafer/couches fines
• Nanomatériaux et nanopériphériques
- Graphène/nanotubes de carbone/nanofils/nanostructures faible consommation
• Composants discrets et passifs
- Résistances/diodes/diodes Zener/LED, têtes d'entraînement de disque, capteurs
- Transistors à jonction bipolaire (BJT) à petits signaux, transistors efficaces sur le terrain
(FET)
• Matériaux et dispositifs organiques
- E-liens/électronique imprimable
• Caractérisation des matériaux
- Résistivité/effet Hall